Стенд для испытаний IGBT транзисторов и драйверов их затворов
В 2018 году коллективом авторов отдела по электротехническому оборудованию инженерно-технического центра Петриком А.Н., Томаштиком М.В., Макариковым Ю.А., Рочевым Р.Ш. была завершена разработка опытного образца стенда для испытаний IGBT транзисторов и драйверов их затворов. Разработанный стенд позволяет оценивать динамические характеристики IGBT транзисторов и их драйверов, демонтированных с неисправных источников бесперебойного питания, с целью их объединения в ремонтные комплекты и дальнейшего использования.
Коллектив авторов отдела по электротехническому оборудованию инженерно-технического центра: Андрей Петрик, Матвей Томаштик, Юрий Макариков и Ринат Рочев
Стенд представляет собой электронное устройство, основу которого составляет микроконтроллер семейства Zilog и имеющее в своем составе клавиатуру для управления стендом, контрольные светодиоды, сигнализирующие о режиме работы стенда и другие вспомогательные узлы. Программное обеспечение микроконтроллера, разработанное на языке Assembler, обеспечивает весь алгоритм функционирования стенда.
В процессе своей работы стенд максимально точно имитирует условия работы драйвера затвора в источниках бесперебойного питания семейства BORRI. Так микроконтроллер генерирует импульсы питающего напряжения драйвера, и импульсы управления затвором IGBT. Анализ работы отдельных цепей и всего драйвера в целом позволяет оценивать его исправность и быстродействие. Встроенный силовой узел позволяет испытывать драйвер с силовым IGBT под нагрузкой, что дает возможность в лабораторных условиях формировать ремонтные комплекты драйверов и силовых IGBT.
В процессе своей работы стенд максимально точно имитирует условия работы драйвера затвора в источниках бесперебойного питания семейства BORRI. Так микроконтроллер генерирует импульсы питающего напряжения драйвера, и импульсы управления затвором IGBT. Анализ работы отдельных цепей и всего драйвера в целом позволяет оценивать его исправность и быстродействие. Встроенный силовой узел позволяет испытывать драйвер с силовым IGBT под нагрузкой, что дает возможность в лабораторных условиях формировать ремонтные комплекты драйверов и силовых IGBT.
Схема стенда для испытаний IGBT транзисторов и драйверов их затворов
Полезная модель повышает эффективность ремонтов источников бесперебойного питания семейства BORRI и позволяет экономить денежные средства на ремонты за счет повторного применения IGBT и драйверов их затворов после их анализа в лабораторных условиях.
На полезную модель был получен патент РФ № 186888, более подробную информацию о данном патенте можно получить на официальном сайте Федерального института промышленной собственности ().
Контактные данные автора текста для связи:
Петрик Андрей Николаевич, ведущий инженер ОЭТО ИТЦ
Телефон: 40723
Электронная почта: apetrik@sgp.gazprom.ru
Увеличенная фотография (JPG, 2 МБ)